• minitest2500epk 2500測(cè)厚儀
    epk 2500測(cè)厚儀

    epk 2500測(cè)厚儀 EPK產(chǎn)品包括:MikroTest麥考特系列機(jī)械型涂鍍層測(cè)厚儀,MiniTest 70系列口袋式便攜式涂鍍層測(cè)厚儀,MiniTest 700系列創(chuàng)新型SIDSP涂鍍層測(cè)厚儀,

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  • MiniTest745EPK 745測(cè)厚儀
    EPK 745測(cè)厚儀

    EPK 745測(cè)厚儀、 MiniTest 745:該系列的*級(jí)機(jī)型–靈活的傳感器設(shè)計(jì)令人信服。 它的內(nèi)置傳感器可以輕松轉(zhuǎn)換為外部傳感器,從而允許用戶利用兩種傳感器設(shè)計(jì)的功能。 無(wú)線傳感器提供了額外的舒適性和靈活性。

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  • 德國(guó)epk測(cè)厚儀經(jīng)銷商
    德國(guó)epk測(cè)厚儀經(jīng)銷商

    德國(guó)epk測(cè)厚儀經(jīng)銷商 代理供應(yīng)德國(guó)epk各個(gè)型號(hào)的測(cè)厚儀,篤摯儀器為您提供該儀器的廠家信息,實(shí)時(shí)價(jià)格、型號(hào)、品牌等參數(shù)信息,同時(shí)為你提供該儀器的相關(guān)新聞、資料及解決方案。

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  • minitest 725測(cè)厚儀F1.5 / 0...1500 µm
    minitest 725測(cè)厚儀F1.5 / 0...1500 µm

    minitest 725測(cè)厚儀F1.5 / 0...1500 µm MiniTest 725有助于對(duì)鐵磁基底(鋼)上的非磁性涂層(油漆,合成材料,鉻等)和導(dǎo)電基底上的絕緣涂層(清漆,搪瓷,合成材料,陽(yáng)極氧化鋁等)進(jìn)行無(wú)損涂層測(cè)量。 (鋁,銅,奧氏體不銹鋼)。

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  • 德國(guó)epk minitest4100(minitest4500)
    德國(guó)epk minitest4100(minitest4500)

    德國(guó)epk minitest4100(minitest4500) 德國(guó)epk minitest4100測(cè)厚儀已經(jīng)停產(chǎn),替代型號(hào)為minitest4500,先前minitest 1100-4100系列的所有探頭都與涂層測(cè)厚儀MiniTest 2500和MiniTest 4500兼容。但是,需要對(duì)探頭進(jìn)行一次性匹配測(cè)量電子設(shè)備。的專業(yè)知識(shí)。

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  • MiniTest 650德國(guó)elektro physic涂層鍍層測(cè)厚儀
    德國(guó)elektro physic涂層鍍層測(cè)厚儀

    德國(guó)elektro physic涂層鍍層測(cè)厚儀 MiniTest 650專為耐用性和高精度而設(shè)計(jì),是精加工行業(yè)中測(cè)量任務(wù)的理想工具。堅(jiān)固耐用且易于操作的測(cè)厚儀一方面兼具延長(zhǎng)的機(jī)械壽命,另一方面又兼具高精度

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  • 新標(biāo)準(zhǔn)高精度MiniTest7400測(cè)厚儀
    新標(biāo)準(zhǔn)高精度MiniTest7400測(cè)厚儀

    新標(biāo)準(zhǔn)高精度MiniTest7400測(cè)厚儀 篤摯儀器代理的minitest 7400可選探頭: 種類繁多的可換探頭,滿足各種應(yīng)用要求。可以通過(guò)推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。 兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。與表面接觸后,儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理。因此,應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰,加快了測(cè)量進(jìn)程。

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  • 智能數(shù)字化涂鍍層測(cè)厚儀minitest740
    智能數(shù)字化涂鍍層測(cè)厚儀minitest740

    智能數(shù)字化涂鍍層測(cè)厚儀minitest740 SIDSP是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱EPK)研發(fā)的,世界**的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的**奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界**技術(shù)生產(chǎn)。

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