德國EPK代理現(xiàn)貨MiniTest 720測厚儀

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德國EPK代理現(xiàn)貨MiniTest 720測厚儀

SIDSP技術詳解

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的性

-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

德國EPK代理現(xiàn)貨MiniTest 720測厚儀
SIDSP探頭

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下zui大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)