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德國(guó)Elektrophysik MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀

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德國(guó)Elektrophysik MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀

MiniTest7400新款高精度涂層測(cè)厚儀|德國(guó)EPK 介紹：
高精度涂層測(cè)厚儀
所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
多種圖形顯示選項(xiàng)
菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
SIDSP®技術(shù)提升度和重現(xiàn)性
MiniTest7400新款高精度涂層測(cè)厚儀|德國(guó)EPK  可選用之探頭腦
MiniTest 7400 探頭
可選探頭
種類(lèi)繁多的可換探頭，滿(mǎn)足各種應(yīng)用要求。
可以通過(guò)推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

德國(guó)Elektrophysik MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀

兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。
與表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理。 因此，應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰，加快了測(cè)量進(jìn)程。

探頭技術(shù)參數(shù)
 
1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)
2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近
3.使用精密支架，不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350第13部分
6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).
7.包括涂層
探頭設(shè)計(jì)選擇
不同的線(xiàn)纜插口類(lèi)型更加靈活，來(lái)適應(yīng)測(cè)試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線(xiàn)纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測(cè)量難以進(jìn)入的類(lèi)似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供zui終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來(lái)保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。