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Elektrophysik MiniTest 7400測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用信息

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Elektrophysik MiniTest 7400測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用信息

MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀應(yīng)用于所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量，具有多種圖形顯示選項(xiàng)。儀器菜單控制界面，具備更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理，還配有用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件，可測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭，*特色的SIDSP®技術(shù)提升度和重現(xiàn)性。

 MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀是通過圖形界面操作,并提供類似于電腦的幫助功能:上下文相關(guān)的幫助,歸檔文件夾結(jié)構(gòu)和菜單驅(qū)動(dòng)的導(dǎo)航數(shù)據(jù)的符號(hào)和文本顯示。大大提高了測(cè)量的靈活性和準(zhǔn)確性。多樣化的管理統(tǒng)計(jì)功能，提供許多測(cè)量便利。測(cè)量精度高，具有*的可靠性和穩(wěn)定性。大背光控制鍵允許額外的舒適，即使戴著工作手套。

規(guī)格參數(shù)：

數(shù)據(jù)記憶組數(shù) 500

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 約25,000個(gè)讀數(shù)

統(tǒng)計(jì)值（每批組） 讀數(shù)個(gè)數(shù)，zui大值，zui小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)，過程能力指數(shù)CP和CPK，直方圖，趨勢(shì)圖 

校準(zhǔn)模式 zui多5點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控 超過極限值時(shí)聲學(xué)、光學(xué)報(bào)警提示

測(cè)量單位 μm，mm，cm，mils，inch，thou

存放溫度 –10°C … 60°C; 14°F … 140°F

操作溫度 –20°C … 70°C; -4°F … 158°F

數(shù)據(jù)接口 4節(jié)AA (LR06型)電池，或可選外接電源(90 – 240 V～/ 48 – 62 Hz)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

電源 IrDA® 1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器

尺寸 153 mm x 89 mm x 32 mm；6 inch x 3.5 inch x 1.3 inch

重量 310 g; 11 oz。(主機(jī)包括電池) 

顯示 160 x 160 像素 LCD 帶背光

規(guī)范 DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840，AS3894；SS 184160，SSPC-PA 2，IMO-PSPC，ASTM B 244，B 499，D 7091，E376 

非破壞性涂層厚度的測(cè)量：

• 非磁性涂料清漆、瓷釉、鉻和鋅鐵磁基礎(chǔ)材料(如鋼材)
• 隔熱涂料清漆和陽極化鋁和有色金屬(如鋁)?

MiniTest內(nèi)存容量：

• 應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量10
• 每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)器的批次數(shù)
• 具有單個(gè)值記憶的批次數(shù)量100
• 單個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000

統(tǒng)計(jì)校準(zhǔn)

大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器允許存儲(chǔ)多達(dá)250,000個(gè)讀數(shù)，zui多500個(gè)批次用于邏輯數(shù)據(jù)管理。
為了滿足高精度測(cè)量的要求，MiniTest 7400傳感器zui多可以校準(zhǔn)5個(gè)點(diǎn)（包括零點(diǎn)）。
預(yù)定義的校準(zhǔn)方法可用于執(zhí)行符合工業(yè)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)ISO 19840，SSPC，“瑞典語”，“澳大利亞”的測(cè)量。
此外，可以在粗糙表面上進(jìn)行特殊的校準(zhǔn)方法

 統(tǒng)計(jì)

• 從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。
• 從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK
• 塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，kvar，n，max。，min。
• 塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK
• 從同一應(yīng)用程序（APPL）中的所有子組（BATCH）
• 分別將值和統(tǒng)計(jì)打印到APPL-BATCH組
• 顯示和打印輸出和測(cè)量時(shí)的日期和時(shí)間（年，月，日，小時(shí)，分鐘）

校準(zhǔn)方法與其他功能：

• 通過涂層校準(zhǔn)（CTC）
• 粗糙表面測(cè)量。幾乎可以消除粗糙度的影響
• OFFSET函數(shù)添加或減少常量值
• 外部功能（觸發(fā)）將讀數(shù)傳送到存儲(chǔ)器
• 鍵鎖定以保護(hù)校準(zhǔn)
• 電池更換期間保存讀數(shù)
• 限制設(shè)置
• 測(cè)量單位為微米或密耳
• 具有高速讀數(shù)的連續(xù)測(cè)量模式，用于識(shí)別zui小值和zui大值
• 在連續(xù)模式下可選擇穩(wěn)定程序以便快速顯示（7個(gè)讀數(shù)/秒）
• 具有浮點(diǎn)或固定小數(shù)點(diǎn)的數(shù)據(jù)傳輸
• 沒有連接探頭的情況下讀取測(cè)量值
• 稍后打印一個(gè)批次的單個(gè)值
• 連續(xù)模式下的zui小

種類繁多的可輕松更換探頭（探頭厚度從0.5mm~35mm），滿足各種厚度測(cè)試應(yīng)用要求，兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料，與測(cè)試物表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供zui終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量?jī)x等各類檢測(cè)設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。