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EPK MiniTest 720/730/740技術(shù)參數(shù)

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EPK MiniTest 720/730/740技術(shù)參數(shù)

 

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目前SIDSP是技術(shù),智能化數(shù)字化的涂層測厚儀探頭。該技術(shù)是有EPK品牌自主研發(fā),此項技術(shù)的在一次創(chuàng)新取得了決定性優(yōu)勢,為涂層測厚領(lǐng)域建立的新標(biāo)準(zhǔn)。

那么,SIDSP有哪些決定性的優(yōu)勢呢?

1)探頭具有*的抗干擾性

2)測量型號穩(wěn)定性高

3)*的高度的探頭特征曲線

4)溫度對探頭不具影響力

5)探頭適應(yīng)能力強

6)N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補償

7)將持續(xù)發(fā)現(xiàn)并改進SIDSP技術(shù),以滿足客服的需求

 

 

 

EPK MiniTest 720/730/740技術(shù)參數(shù)

 

主機:

              型號
  特性  
MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探頭類型內(nèi)置外置內(nèi)/外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)1010100
存儲數(shù)據(jù)量≤10000個≤10000個≤100000個
統(tǒng)計值讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范ISO,SSOC,瑞典標(biāo)注,澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點校準(zhǔn),2點校準(zhǔn),3點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控聲、光報警提示超過極限
測量單位um, mm, cm, mils,inch,thou
操作溫度 -10℃-60℃
存放溫度 -20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口IrDA 1.0(紅外接口)
電源2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
體積157mm x 75.5mm x 49mm
重量約175g約210g約175g(內(nèi)置)230g(外置)

 

探頭:

           探頭
  特性
F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5F2F5,N2.5,F(xiàn)N5F15
FNFFNF
測量范圍0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm
使用范圍小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用粗糙表面標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛厚涂層
測量原理磁感應(yīng)電渦流磁感應(yīng)磁感應(yīng)電渦流磁感應(yīng)
信號處理探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)
±(1μm+0.75%讀值)±(1.5μm+0.75%讀值)±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性 
±(0.5μm+0.5%讀值)
±(0.8μm+0.5%讀值)±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率0.05μm0.1μm1μm
zui小曲率半徑(凸)1.0mm1.5mm5mm
zui小曲率半徑(凹,外置探頭)7.5mm10mm25mm
zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)30mm30mm30mm
zui小測量面積Φ5mmΦ10mmΦ25mm
zui小基體厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm
測量速度連續(xù)模式每秒20個讀數(shù),單值模式下每分鐘70個讀數(shù)

 

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