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GalvanoTest 2000庫(kù)侖測(cè)厚儀EPK測(cè)厚儀

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GalvanoTest 2000庫(kù)侖測(cè)厚儀EPK測(cè)厚儀

 

GalvanoTest 2000庫(kù)侖測(cè)厚儀EPK測(cè)厚儀

產(chǎn)品特點(diǎn) 
• 可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層 
• 利用庫(kù)侖電量分析原理,測(cè)量鍍層、多層鍍層 
• 符合標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177 

   

涂層測(cè)厚儀GALVANOTEST 2000


德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GALVANOTEST 2000,運(yùn)用良好的庫(kù)侖電量分析原理。其過(guò)程類似于電鍍,但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍??梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?;w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹(shù)脂上的銅等。 
測(cè)量時(shí)具有一定的破壞性,需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬,而基體不受影響。庫(kù)侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠,儀器使用簡(jiǎn)便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成,操作者不需具備太多的專業(yè)知識(shí)也可以簡(jiǎn)單操作。
GALVANOTEST 2000保證所有測(cè)量和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)安全可靠,可打印數(shù)據(jù)和電壓特征曲線。 

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GALVANOTEST 可以測(cè)量

2000

3000

可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合

可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層

可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件

預(yù)置10種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金(需提供樣品確定)

 

預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

 

用戶可另設(shè)置8種金屬的測(cè)量參數(shù)

 

用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)

 

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀測(cè)量機(jī)構(gòu):

 

 

帶循環(huán)泵

 

帶氣泵

 

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀測(cè)量面積:

 

 

密封墊 8 mm2

 

密封墊 4 mm2

密封片 1 mm2

密封片 0.25 mm2(涂鍍層面積幾乎小得看不見(jiàn))

 

電解杯 0.25-16 mm2 (可選件)

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀測(cè)量參數(shù)*化調(diào)整:

 

 

除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)

根據(jù)金屬和測(cè)量表面可直接調(diào)整系數(shù)

可用厚度標(biāo)準(zhǔn)樣板校準(zhǔn)

可調(diào)整終點(diǎn)電壓,以抗干擾,適應(yīng)鍍層/基體之間的合金

GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

 

 

可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目

10

18

可存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值

2000

2000

儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀統(tǒng)計(jì)計(jì)算:

 

 

顯示6種統(tǒng)計(jì)值:均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個(gè)數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值

立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值

 

顯示、打印年、月、日、時(shí)、分

用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口:

 

 

MINIPRINT 微型打印機(jī)接口

RS-232,PC計(jì)算機(jī)接口

連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口

電解液飽和報(bào)警指示

 

測(cè)量的不確定性:

 

 

5%,在8mm2面積下,經(jīng)校準(zhǔn)

庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀電源:

 

 

110/220V,50/60HZ,10W

測(cè)量范圍:

 

 

zui大測(cè)量范圍:0.05-75μm

 

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